特許庁では7月25日から、特許情報プラットフォーム(J-PlatPat)を介して、五大特許庁への出願に加えてPCT国際出願等の特許審査に関連する情報（ドシエ情報）を、世界で初めて一括把握できる情報提供サービス「ワン・ポータル・ドシエ（OPD）」を開始します。
これにより、グローバルな知財戦略に役立つ特許審査の情報をワンストップで得ることができます。
主な特徴は以下のとおり。
• 五大特許庁や、WIPO-CASE1参加庁のドシエ情報(PCT国際出願を含む)を見やすい形式で一括参照することが可能。例えば、各国における手続や審査の状況を一括で把握することができ、また、各種書類データを容易に取得することができます。なお、WIPO-CASE参加庁(※)を含めたドシエ情報の一括提供は、世界初。
• 各庁のドシエ情報の英訳も提供されるため、例えば、中国への出願に対する拒絶理由通知書について、中国語と英語で取得することが可能。
• 各庁のデータベースをリアルタイムに検索するため、最新の情報を得ることが可能。
• その他、書類の種別によるフィルタ機能、付与された分類や引用された文献の一覧表示機能等、必要な情報をまとめて参照するための様々な機能を利用することが可能。
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